JTAG — различия между версиями

Текущая версия на 10:43, 29 сентября 2014

Эта страница удалена

@@ Строка 1: / Строка 1: @@
-Группа производителей электроники JTAG (Joint Test Action Group) выдвигает промышленный стандарт для тестирования чипов.
+{{delete|ненужная активность}}
-Каждому выводу назначается ячейка, значение которой выборочно считывается, либо записывается.
-Интерфейс JTAG синхронный:
-* TDI — Test Data Input — сигнал данных на вход
-* TDO — Test Data Output — выход последовательных данных JTAG
-* TMS — Test Mode Select — сигнал управления TAP-контроллером
-* TRST — Test Reset - необязательный сброс
-* TCK — Test Clock — тактовая частота
-Через TMS TAP-контроллер переходит в состояния работы с данными и перезаписи данных в выходные регистры.
-http://habrastorage.org/storage2/9bc/b4d/124/9bcb4d1247f35bd7b5cd98134cec3bb4.jpg
-ссылки на источники
-http://habrahabr.ru/post/190012/