JTAG
Материал из CADR
Версия от 14:47, 24 сентября 2014; Gymlyg (обсуждение | вклад) (Новая страница: «Группа производителей электроники JTAG (Joint Test Action Group) выдвигает промышленный стандарт дл…»)
Группа производителей электроники JTAG (Joint Test Action Group) выдвигает промышленный стандарт для тестирования чипов. Каждому выводу назначается ячейка, значение которой выборочно считывается, либо записывается.
Интерфейс JTAG синхронный:
- TDI — Test Data Input — сигнал данных на вход
- TDO — Test Data Output — выход последовательных данных JTAG
- TMS — Test Mode Select — сигнал управления TAP-контроллером
- TRST — Test Reset - необязательный сброс
- TCK — Test Clock — тактовая частота
Через TMS TAP-контроллер переходит в состояния работы с данными и перезаписи данных в выходные регистры.
http://habrastorage.org/storage2/9bc/b4d/124/9bcb4d1247f35bd7b5cd98134cec3bb4.jpg
ссылки на источники http://habrahabr.ru/post/190012/