JTAG — различия между версиями

Материал из CADR
Перейти к: навигация, поиск
(Новая страница: «Группа производителей электроники JTAG (Joint Test Action Group) выдвигает промышленный стандарт дл…»)
 
(Содержимое страницы заменено на «{{delete|ненужная активность}}»)
 
Строка 1: Строка 1:
Группа производителей электроники JTAG (Joint Test Action Group) выдвигает промышленный стандарт для тестирования чипов.
+
{{delete|ненужная активность}}
Каждому выводу назначается ячейка, значение которой выборочно считывается, либо записывается.
 
 
 
Интерфейс JTAG синхронный:
 
* TDI — Test Data Input — сигнал данных на вход
 
* TDO — Test Data Output — выход последовательных данных JTAG
 
* TMS — Test Mode Select — сигнал управления TAP-контроллером
 
* TRST — Test Reset - необязательный сброс
 
* TCK — Test Clock — тактовая частота
 
 
 
Через TMS TAP-контроллер переходит в состояния работы с данными и перезаписи данных в выходные регистры.
 
 
 
http://habrastorage.org/storage2/9bc/b4d/124/9bcb4d1247f35bd7b5cd98134cec3bb4.jpg
 
 
 
ссылки на источники
 
http://habrahabr.ru/post/190012/
 

Текущая версия на 10:43, 29 сентября 2014

Эта страница удалена