Группа производителей электроники JTAG (Joint Test Action Group) выдвигает промышленный стандарт для тестирования чипов.Каждому выводу назначается ячейка, значение которой выборочно считывается, либо записывается. Интерфейс JTAG синхронный:* TDI — Test Data Input — сигнал данных на вход* TDO — Test Data Output — выход последовательных данных JTAG* TMS — Test Mode Select — сигнал управления TAP-контроллером* TRST — Test Reset - необязательный сброс* TCK — Test Clock — тактовая частота Через TMS TAP-контроллер переходит в состояния работы с данными и перезаписи данных в выходные регистры. http://habrastorage.org/storage2/9bc/b4d/124/9bcb4d1247f35bd7b5cd98134cec3bb4.jpg ссылки на источникиhttp://habrahabr.ru/post/190012/{{delete|ненужная активность}}
