JTAG

Материал из CADR
Версия от 14:47, 24 сентября 2014; Gymlyg (обсуждение | вклад) (Новая страница: «Группа производителей электроники JTAG (Joint Test Action Group) выдвигает промышленный стандарт дл…»)
(разн.) ← Предыдущая | Текущая версия (разн.) | Следующая → (разн.)
Перейти к: навигация, поиск

Группа производителей электроники JTAG (Joint Test Action Group) выдвигает промышленный стандарт для тестирования чипов. Каждому выводу назначается ячейка, значение которой выборочно считывается, либо записывается.

Интерфейс JTAG синхронный:

  • TDI — Test Data Input — сигнал данных на вход
  • TDO — Test Data Output — выход последовательных данных JTAG
  • TMS — Test Mode Select — сигнал управления TAP-контроллером
  • TRST — Test Reset - необязательный сброс
  • TCK — Test Clock — тактовая частота

Через TMS TAP-контроллер переходит в состояния работы с данными и перезаписи данных в выходные регистры.

http://habrastorage.org/storage2/9bc/b4d/124/9bcb4d1247f35bd7b5cd98134cec3bb4.jpg

ссылки на источники http://habrahabr.ru/post/190012/